Popis poptávky

Elektrochemický mikroskop atomárních sil (AFM) je vybaven pro pozorování morfologie povrchů na vzduchu i v kapalinách a studium změn morfologie elektrod v průběhu elektrochemických procesů. Mikroskop současně umožňuje pokročilé charakterizační techniky pro povrchy včetně metod jako MFM, SSRI, LFM, KPFM, PFM, EFM, spektroskopických měření a litografických technik. Mikroskop je vybaven aktivní antivibrační platformou, akustickou a elektromagnetickou ochranou při měření a vyhřívaným držákem vzorků. Mikroskop umožňuje provádění měření pomocí techniky SCIM.

Informace o zakázce

Podrobné informace o zadavateli a zakázce

Kategorie poptávky, klasifikace

• Filmy, fotoaparáty, optika, distributoři