Popis poptávky

Unikátní kombinace lokálních on-site metod SEM (rastrovací elektronová mikroskopie), FIB (iontová mikroskopie, odprašování povrchu, modifikace vzorku iontovým svazkem), RS (Ramanova spektroskopie), EPMA (rtg. mikroanalýza), SIMS-TOF (spektroskopie sekundárních iontů), EBSD (elektronová difrakce zpětně odražených elektronů) a CL (katodoluminiscence) umožňuje kombinovat strukturní, morfologické a chemické informace z daného bodu o rozměrech řádově jednoho mikrometru. U kompozitních materiálů nebo jinak morfologicky, strukturně a chemicky komplexních vzorků jde o unikátní možnost lokálního studia jednotlivých mikroskopických fází.

Informace o zakázce

Podrobné informace o zadavateli a zakázce

Kategorie poptávky, klasifikace

• Mikroskopy a příslušenství