Popis poptávky

Část 1 Zařízení tzv. duální iontový a elektronový mikroskop (FIB-SEM) pracující v běžných a po rozšíření o kryogenní stolek (část 2 VZ) i v kryogenních podmínkách vhodný pro: (i) 3D objemovou strukturální a prvkovou analýzu všech typů vodivých i nevodivých materiálů, včetně biologických či teplotně nestabilních vzorků v kryogenních podmínkách (za využití kryogenního stolku v části 2 VZ) pomocí ablace materiálu iontovými svazky a za současné analýzy rastrovací el. mikroskopií, popř. EDS; (ii) pro přípravu TEM lamel všech typů materiálů iontovou ablací, včetně biologických a teplotně nestabilních vzorků v kryogenních podmínkách (za využití kryogenního stolku v části 2 VZ) pro jejich následnou analýzu pomocí cryo-TEM, (iii) iontové leptání nanostruktur různých typů materiálů s rozlišením desítek nm, (iv) elektronovou litografii s rozlišením jednotek nanometrů, (v) iontové a elektronové depozice vodivých a nevodivých materiálů. Zařízení bude schopno korelovat obraz ze SEM s EDS analyzátorem, realizovat 3D softwarové rekonstrukce materiálů, včetně rozložení prvkového složení a korelovat obraz s optickou mikroskopií.

Informace o zakázce

Podrobné informace o zadavateli a zakázce

Kategorie poptávky, klasifikace

• Laboratorní přístroje, vybavení, zařízení a potřeby