Popis poptávky

Předmětem zakázky je dodávka souhrnu analytických a preparačních metod seskupených do jednoho vzájemně propojeného celku nazvaného UHV komplexní systém pro výrobu a charakterizaci ultratenkých vrstev a nanostruktur. Komplexní UHV systém spojuje in-situ preparační a analytické metody studia povrchů a tenkých vrstev a to jak anorganických, tak i organických. Uspořádání aparatury a výběr analytických metod umožní studium struktury povrchových vrstev vzorků, jejich chemického složení a elektronové struktury a to v reálném čase jak v mikrometrovém, tak i nanometrovém měřítku. Systém je složen z analytických a preparačních komor vzájemně propojených lineárním transportním systémem: (I) komora pro analýzu metodou LEEM/PEEM, (II) komora pro analýzu STM/AFM, (III) komora pro analýzu fotoelektronovou spektroskopií, (IV) komora pro depozici metodou MBE, (V) víceúčelová komora pro přípravu vzorků v podmínkách velmi vysokého vakua, (VI) komora pro základní přípravu a čištění vzorků, (VII) zakládací komora. Systém dále umožňuje integraci produktů třetích stran: (VIII) systém pro depozici metodou PLD, (IX) systém pro analýzu povrchů metodou LEIS, Systém bude dále obsahovat: (X) systém pro přesun vzorků mezi jednotlivými komorami v podmínkách velmi vysokého vakua. Součástí dodávky je rovněž kompletní elektronický systém, řídící a vyhodnocovací datastanice včetně SW. Podrobná technická specifikace a požadavky na systém a jednotlivé komory je v části 3 zadávací dokumentace – technická specifikace předmětu zakázky, kde je současně uveden způsob ověření jednotlivých požadovaných parametrů zadavatelem.

Informace o zakázce

Podrobné informace o zadavateli a zakázce

Kategorie poptávky, klasifikace

• Měřicí a testovací přístroje, kontrolní systémy a zařízení, distributoři