Popis poptávky

Mikroskopie atomárních sil (AFM) je metoda vysokorozlišovací mikroskopie (v řádu nanometrů), která je založena na principu skenování povrchu sondou, a umožňuje studium morfologie materiálů s rozlišením v řádech nanometrů. AFM může být upraveno tak, aby bylo možné ho připojit na invertovaný fluorescenční konfokální mikroskop a docílit tak kombinovaného zobrazování s rozlišením, které není obvyklé pro optické přístroje. AFM je klasicky používané na vzduchu, pro měření biologických vzorků v biologickém prostředí je AFM speciálně navrženo pro možnost měření v kapalinách. Je tak možné zmapovat morfologii buněčných vzorků se super-rozlišením.

Informace o zakázce

Podrobné informace o zadavateli a zakázce

Kategorie poptávky, klasifikace

• Filmy, fotoaparáty, optika, distributoři