Popis poptávky

Předmětem veřejné zakázky je skenovací elektronový mikroskop s autoemisním zdrojem elektronů (FEG) kombinovaný s iontovým skenovacím mikroskopem (FIB). Mikroskop bude vybaven detektory zpětně odražených elektronů a sekundárních elektronů a iontů pro základní pozorování vzorků. Mikroskop bude dále vybaven analytickými detektory pro detailní studium chemického složení a krystalografie vzorků - energiově disperzním spektrometrem (EDS) a detektorem difraktovaných zpětně odražených elektronů (EBSD) - a to ve třech rozměrech (při postupném ubírání materiálu pomocí FIB). Mikroskop musí dále umožnit přípravu lamel z pozorovaných preparátů pro následné studium vzorků v transmisním elektronovém mikroskopu (TEM).

Informace o zakázce

Podrobné informace o zadavateli a zakázce

Kategorie poptávky, klasifikace

• Mikroskopy a příslušenství