Popis poptávky

Předmětem dodávky je kompletní systém pro charakterizaci povrchů pevných látek metodami rastrovací elektronové mikroskopie (SEM), Augerovy elektronové spektroskopie (AES), rastrovací Augerovy mikroskopie (SAM) a rastrovací elektronové mikroskopie se spinově polarizovanou detekcí sekundárních elektronů. Dané zařízení je určeno pro chemickou analýzu povrchů materiálů a mikrostruktur. Dodávka zahrnuje plně funkční technologický celek, který se skládá minimálně z procesní vysokovakuové komory a nezávisle čerpané zakládací komory, chladicího systém, elektronového tubusu, elektronového spektrometru pro Augerovu elektronovou spektroskopii, analyzátoru pro spinově polarizovanou detekci sekundárních elektronů a neutralizačního/odprašovacího iontového zdroje.

Informace o zakázce

Podrobné informace o zadavateli a zakázce

Kategorie poptávky, klasifikace

• Filmy, fotoaparáty, optika, distributoři