Popis poptávky

Předmětem zakázky je dodávka rastrovacího sondového mikroskopu dovybaveného moduly charakterizace elektrických veličin a litografie. Dané zařízení je určeno jak pro charakterizaci povrchu mikro- a nanostruktur z hlediska topografie, mapování rozložení magnetických, elektrostatických sil, lokální měření proudu, tak i pro lokální modifikaci povrchu zkoumaných vzorků založenou na principu anodické oxidace k vytváření např. nevodivých oxidových barier na tenkých vrstvách. Zařízení musí obsahovat plnohodnotně vybavený sondový mikroskop (SPM, AFM, STM) umístěný na antivibračním podkladu, s rastrovací jednotkou v rozsahu jednotek nanometrů až desítek mikrometrů, být schopen pojmout vzorek o velikosti 8“ a tloušťce minimálně 1 mm, vybaven napěťovým i proudovým zdrojem, modulem pro vektorovou a rastrovou litografii a dále moduly pro stanovení lokálních magnetických a elektrických poměrů na povrchu studovaných vzorků. Mikroskop musí být vybaven optickým systémem s přímým pohledem na měřené místo.

Informace o zakázce

Podrobné informace o zadavateli a zakázce

Kategorie poptávky, klasifikace

• Mikroskopy a příslušenství