Popis poptávky

Předmětem dodávky je kompletní systém pro charakterizaci povrchů pevných látek metodou rentgenové fotoelektronové spektroskopie (XPS) s parametry splňujícími následující požadavky. Kompletní multifunkční vysokorozlišovací spektrometr včetně kompletního vakuového systému, chladícího systému, monochromatizovaného zdroje rentgenového záření, detekčního systému se spektrometrem, kompletní elektronický systém, řídící a vyhodnocovací datastanice s OS Windows XP/7/8, ovládací a vyhodnocovací SW balík spektrometru. K systému je připojena přípravná komora a zakládací komora. XPS systém musí umožňovat rutinní analýzu všech typů pevných látek: kovů, polovodičů, oxidů a polymerů, a to i práškových vzorků. Systém rovněž umožňuje předchlazení vzorků v inertní atmosféře při jejich zakládání. XPS systém musí být schopen provádět XPS měření s vysokým rozlišením, XPS analýzu z malé plochy, prvkové a chemické zobrazování a mapování, hloubkové profilování nakláněním vzorku i odprašováním materiálů elektricky vodivých i izolantů. Systém musí umožňovat provádět operativně vypékací proceduru bez nutnosti provádění předběžných HW úprav měřícího systému. Podrobná specifikace je uvedena v zadávací dokumentaci.

Informace o zakázce

Podrobné informace o zadavateli a zakázce

Kategorie poptávky, klasifikace

• Měřicí přístroje pro jadernou technologii, detektory záření
• Spektrometry, fotometry, spektrofotometry, spektrografy
• Měřicí a testovací přístroje, kontrolní systémy a zařízení, distributoři