Popis poptávky

Předmětem veřejné zakázky je dodávka, instalace, zaškolení obsluhy kvalifikovaným pracovníkem a zajištění záručního a garance pozáručního servisu skenovacího elektronového mikroskopu vybaveného fokusovaným iontovým svazkem (FIB) a analytickými metodami (dále jen “zařízení“). Jedná se o zařízení určené pro materiálový výzkum, především pro charakterizaci vodivých i nevodivých materiálů a nanoobrábění, zejména pro přípravu lamel pro transmisní elektronovou mikroskopii. Předmětem využití mikroskopu bude výzkum a vývoj v oblasti práškových materiálů a průmyslových dílů. Požadována je komplexní dodávka včetně všech periferních zařízení, pokud jsou nutná k plnému zprovoznění systému SEM/FIB, včetně dodávky základní sady spotřebního materiálu. Požadavkem je maximální míra automatizace a integrace hardware a software.

Informace o zakázce

Podrobné informace o zadavateli a zakázce

Kategorie poptávky, klasifikace

• Mikroskopy a příslušenství