Popis poptávky

Předmětem veřejné zakázky je dodávka SPM mikroskopu s možností měření v externím magnetickém poli. Jedná se o systém mikroskopu skenující sondou (SPM) pracující na principu trojrozměrného skenování povrchů, který využívá k měření externí magnetické pole v rovině vzorku (in plane) a kolmo k rovině vzorku (out of plane). Mikroskop bude využit v široké škále aplikací (např. materiálová analýza, biotechnologie), zejména však ke studiu magnetických materiálů, procesech v nich probíhajících (vizualizace magnetických domén, procesů magnetizace, demagnetizace v nanokompozitech, rychle ztuhlých kovech, tenkých vrstvách) a vlivu externího magnetického pole na tyto materiály.

Informace o zakázce

Podrobné informace o zadavateli a zakázce

Kategorie poptávky, klasifikace

• Mikroskopy a příslušenství