Popis poptávky

Dodávka zahrnuje dva řádkovací elektronové mikroskopy - SEM s EDS, EBSD detektory a instalovaným stolkem pro mechanické a tepelné zatěžování umožňující "in situ" EBSD analýzu, přístroj je přizpůsoben pro budoucí dovybavení WDS detektorem v případě nesplnění dílčího hodnotícího kritéria č. 2 dle přílohy č.2 zadávací dokumentace. Druhý přístroj SEM-FIB, který je součástí dodávky, je vybaven detektory EDS, WDS i EBSD. Rozlišení obou řádkovacích elektronových mikroskopů v SE při urychlovacím napětí 30 kV je alespoň 1,2 nm. Podrobná technická specifikace řádkovacích elektronových mikroskopů je v Příloze č. 1 Zadávací dokumentace (Priloha_c1_cast1_Technicke podminky a Priloha_c1_cast2_Technicke podminky).

Informace o zakázce

Podrobné informace o zadavateli a zakázce

Kategorie poptávky, klasifikace

• Filmy, fotoaparáty, optika, distributoři