Popis poptávky

Předmětem zakázky je dodávka vakuového rastrovacího sondového mikroskopu umožňujícího SPM měření ve vnějším magnetickém poli. Zařízení musí být dále schopno provádět komplementární analýzu SIMS kráterů vytvořených v průběhu měření na zařízení ION TOF TOF.SIMS5. Podrobně je předmět veřejné zakázky vymezen technickými, obchodními a jinými smluvními podmínkami, které jsou součástí přílohy A zadávací dokumentace, tato příloha je poskytována v česko‐anglické verzi, samotná technická specifikace, která tvoří přílohu č. 1 návrhu smlouvy je poskytována pouze v anglickém jazyce. Zadavatel dává dodavatelům možnost výběru platebních a obchodních podmínek. Dodavatel zvolí příslušnou variantu dle výběru a do nabídky vloží návrh kupní smlouvy vybrané varianty.

Informace o zakázce

Podrobné informace o zadavateli a zakázce

Kategorie poptávky, klasifikace

• Mikroskopy a příslušenství