Popis poptávky

Předmětem této zakázky je dodávka zařízení určeného zejména pro měření struktur vytvořených na křemíkových waferech, na kterých jsou prováděna elektrická měření pomocí hrotových sond. Zakázka je rozdělena na 2 části: 1) Systém pro charakterizaci polovodičových struktur 2) Kontaktovací stanice Dodavatel může podat nabídku na jednu libovolnou část či na obě části zakázky současně. ad 1) Systém pro charakterizaci polovodičových struktur Sestava požadovaná v části 1 zakázky musí obsahovat vlastní charakterizační systém polovodičových struktur, napájecí a měřicí jednotky, moduly pro měření závislosti složek impedance na napětí. Dále systém obsahuje modul pro testování rychlých pulsních I/V charakteristik, modul pro měření velkých odporů, 4 x jednotky SMU, jednotky s osciloskopy pro zobrazování signálů a jejich analýzu. Součástí je také poloautomatická kontaktovací stanice zajišťující fixaci a samotné nakontaktování vzorku. Zprostředkovává také motorický posuv ve třech osách a úhlové natočení vzorku. Stanice je vybavena stínící komorou zajišťující elektricky i světelně stabilní měřicí prostředí. ad 2) Kontaktovací stanice Předmětem části 2 zakázky je dodávka poloautomatické kontaktovací stanice, která musí obsahovat základnu s ramenem pro uchycení optické soustavy, vlastní optický systém pro pozorování vzorku vybavený osvětlením. Teplotně nastavitelný fixační stolek pro uložení vzorku v rozsahu teplot 20 - 200 °C, minimálně 4 polohovatelné moduly s měřicími sondami. Tento komplet musí být schopen komunikovat s měřicími jednotkami pro elektrickou charakterizaci součástek. Je vyžadována kompatibilita systému s dark boxem zajišťující stíněné prostředí pro měřený vzorek. Podrobná specifikace bude uvedena v zadávací dokumentaci.

Informace o zakázce

Podrobné informace o zadavateli a zakázce

Kategorie poptávky, klasifikace

• Stroje a zařízení pro chemický, farmaceutický průmysl, laboratoře, distributoři